Значок книги

Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок Б. Н. Васичев

Сохранить в:

Библиографические подробности
Автор:	Васичев Б. Н.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian
Год издания:	Москва Металлургия 1977
Рубрика:	Рентгеноспектральный анализ
Ключевые слова:	Пленки тонкие Рентгеноспектральный анализ

Схожие документы

Эллипсометрия тонких пленок
Автор: Федотова И. В.
Год издания: (1996)

Коагуляция и динамика тонких пленок
Автор: Духин С. С.
Год издания: (1986)

Технология и оборудование для нанесения тонких пленок
Автор: Березин М. И.
Год издания: (1972)

Технология тонких пленок
Автор: Ветошкин В. М.
Год издания: (2013)

Эпитаксия тонких пленок Германия и Кремния из атомных и молекулярных пучков
Автор: Александров Л. Н.
Год издания: (1974)

Вакуумное нанесение тонких пленок
Автор: Данилин Б. С.
Год издания: (1967)

Рентгеноспектральный электроннозондовый микроанализ
Автор: Батырев В. А.
Год издания: (1982)

Количественный электронно-зондовый микроанализ
Год издания: (1986)

Теория устойчивости коллоидов и тонких пленок
Автор: Дерягин Б. В.
Год издания: (1986)

Неразрушающий контроль параметров тонких проводящих пленок электромагнитными методами
Автор: Гаврилин В. В.
Год издания: (1991)

Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда
Автор: Биркс Л. С.
Год издания: (1966)

Рентгенодифракционные исследования нанокомпозитных тонких пленок. Программные методы
Год издания: (2009)

Основы анализа поверхности и тонких пленок
Автор: Фелдман Л.
Год издания: (1989)

Химия и технология неорганических пленок
Автор: Борисенко А. И.
Год издания: (1973)

Введение в эллипсометрию наноразмерных пленок
Автор: Алалыкин А. С.
Год издания: (2011)

Структурные превращения в тонких пленках
Автор: Иевлев В. М.
Год издания: (1988)

Структурные превращения в тонких пленках
Автор: Иевлев В. М.
Год издания: (1982)

Измерение толщины тонких пленок и покрытий
Автор: Александров А. А.
Год издания: (1966)

Массоперенос в тонких пленках
Автор: Колешко В. М.
Год издания: (1980)

Электронно-зондовый микроанализ в исследовании полимеров
Автор: Чалых А. Е.
Год издания: (1990)

Применение тонких поглощающих пленок в измерительной технике СВЧ
Автор: Архангельский Ю. С.
Год издания: (1975)

Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов
Автор: Гимельфарб Ф. А.
Год издания: (1986)

Двумерная диффузия в многослойных тонкопленочных структурах
Автор: Сысоев Г. И.
Год издания: (1993)

Материалы II всесоюзного межотраслевого совещания "Тонкие пленки в электронике"
Год издания: (1991)

Эпитаксиальные пленки соединений AII ВVI
Автор: Калинкин И. П.
Год издания: (1978)

Кристаллизация тонких пленок
Год издания: (1970)

Вакуумное нанесение пленок в квазизамкнутом объеме
Год издания: (1975)

Применение низкотемпературной плазмы для нанесения тонких пленок
Автор: Данилин Б. С.
Год издания: (1989)

Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок
Автор: Еловиков С. С.
Год издания: (1992)

Диэлектрические пленки в микроэлектронике
Автор: Корзо В. Ф.
Год издания: (1977)

Прикладная спектрометрия рентгеновского излучения
Автор: Вольдсет Р.
Год издания: (1977)

Рентгено-спектральное определение заряда атомов в молекулах
Автор: Баринский Р. Л.
Год издания: (1966)

Рентгено-спектральный анализ
Автор: Верховодов П. А.
Год издания: (1984)

Рентгеноспектральный анализ с ионным возбуждением
Автор: Коляда В. М.
Год издания: (1978)

Рентгеновские спектры и электронная структура силицидов и германидов
Автор: Жураковский Е. А.
Год издания: (1981)

Магнитооптика тонких пленок
Автор: Звездин А. К.
Год издания: (1988)

Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в геологии и геохимии
Автор: Бахтиаров А. В.
Год издания: (1985)

Получение тонких полимерных пленок из газовой фазы
Автор: Ткачук Б. В.
Год издания: (1977)

Оптический интерференционный метод определения показателя преломления и толщины пленок
Автор: Крылов П. Н.
Год издания: (2011)

Интерференционные покрытия
Автор: Крылова Т. Н.
Год издания: (1973)