Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом Е. Ю. Шелковников
Сохранить в:
Автор: | Шелковников Е. Ю. |
---|---|
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Ижевск ИПМ УрО РАН 2008
|
Предметная рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания: (2008) -
Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом
Автор: Шелковников Е. Ю.
Год издания: (2008) -
Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания: (2008) -
Кластерные материалы
Год издания: (1991) -
Кластерные системы и материалы
Год издания: (1997)