Оптико-электронные методы автоматизированного контроля топологии изделий микроэлектроники Е. К. Чехович

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Чехович Е. К.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Минск Наука и техника 1989
Рубрика:
Ключевые слова:
LEADER 01192nam0a2200253 i 4500
001 F9BEF3A1-D2BF-48B6-B333-597B606A35DB
010 |a 5-343-00087-8  |d р.1.70 
100 |a 20081114d1989 |||y0rusy02 ca 
101 0 |a rus 
102 |a BY 
105 |a a ||||000zy 
200 1 |a Оптико-электронные методы автоматизированного контроля топологии изделий микроэлектроники  |f Е. К. Чехович  |g АН БССР, Ин-т электрон. 
210 |a Минск  |c Наука и техника  |d 1989 
215 |a 212, [1]с.  |c ил.  |d 20 см 
320 |a Библиогр.: с. 200-211 (267 назв.) 
606 |a Микроэлектронная аппаратура  |x Размеры  |x Технический контроль автоматический 
606 |a Контрольно-измерительные инструменты и приборы оптоэлектронные 
686 |a 32.844.1-06  |2 rubbk 
686 |a 47  |2 rugasnti 
700 1 |a Чехович  |b Е. К.  |g Евгений Казимирович 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20081114