Моделирование изображений дефектов структуры монокристаллов в рентгеновской топографии на основе эффекта Бормана Дзюба Илья Владимирович
Сохранить в:
Автор: | Дзюба И. В. |
---|---|
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Ижевск Удмуртский государственный университет 2011
|
Рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Цифровые методы обработки рентгенотопографических и поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллических полупроводников
Автор: Ткаль В. А.
Год издания: (2007) -
Методы исследования дефектов структур полупроводников
Автор: Елисеев А. А.
Год издания: (1983) -
Выращивание монокристаллов
Год издания: (1970) -
Проблемы получения и исследования монокристаллов
Год издания: (1988) -
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
Автор: Вавилов В. С.
Год издания: (1981)