Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Методы исследования дефектов с...
Фонды
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Методы исследования дефектов структур полупроводников А. А. Елисеев
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Елисеев А. А.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва МИТХТ 1983
Рубрика:
Дефекты
Ключевые слова:
Полупроводники Дефекты
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
Недоступно
Подробно о фондах из Недоступно
Шифр:
Временно недоступно
Копировать 1
Доступно
Схожие документы
Цифровые методы обработки рентгенотопографических и поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллических полупроводников
Автор: Ткаль В. А.
Год издания: (2007)
Дефекты в кристаллах полупроводников
Год издания: (1969)
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
Автор: Вавилов В. С.
Год издания: (1981)
Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
Автор: Окунев А. О.
Год издания: (2009)
Теория радиационных дефектов в полупроводниках
Автор: Тележкин В. А.
Год издания: (1988)
×
Загрузка...