Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Тип документа: Автореферат
Язык:Russian
Год издания: 2000
Online-ссылка:http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25711
Ключевые слова:
Недоступно описание.