Цифровые методы обработки рентгенотопографических и поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллических полупроводников В. А. Ткаль ; [науч. консультант Г. М. Емельянов]
Сохранить в:
Автор: | Ткаль В. А. |
---|---|
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Ижевск 2007
|
Рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Цифровые методы обработки рентгенотопографических и поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллических полупроводников
Автор: Ткаль, Валерий Александрович
Год издания: (2007) -
Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
Автор: Окунев А. О.
Год издания: (2009) -
Методы исследования дефектов структур полупроводников
Автор: Елисеев А. А.
Год издания: (1983) -
Моделирование изображений дефектов структуры монокристаллов в рентгеновской топографии на основе эффекта Бормана
Автор: Дзюба И. В.
Год издания: (2011) -
Дефекты в кристаллах полупроводников
Год издания: (1969)