Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов Шелковников Евгений Юрьевич

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Шелковников Е. Ю.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Ижевск 2000
Предметная рубрика:
Ключевые слова: