Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов Шелковников Евгений Юрьевич
Сохранить в:
Автор: | |
---|---|
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Ижевск 2000
|
Предметная рубрика: | |
Ключевые слова: |
Недоступно описание.