|
|
|
|
| LEADER |
02467nam0a2200385 i 4500 |
| 001 |
3F8D9BF9-5DC5-427A-B80E-7DB3AF2692D5 |
| 100 |
|
|
|a 20021014d2000 k y0rusy02
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a aa m 000#y
|
| 200 |
1 |
|
|a Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
|e автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата технических наук : специальность: 05.11.13 - приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий
|f Шелковников Евгений Юрьевич
|g научный руководитель: А. М. Липанов ; Институт прикладной механики УрО РАН
|
| 210 |
|
|
|a Ижевск
|d 2000
|
| 215 |
|
|
|a 20с.
|c рис.
|d 21 см
|
| 300 |
|
|
|a На правах рукописи
|
| 320 |
|
|
|a Библиография: с. 18-20 (35 названий)
|
| 328 |
|
|
|a Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: 05.11.13. -Защищена 15.12.2000
|
| 606 |
|
|
|a Электронная микроскопия
|
| 606 |
|
|
|a Электронные приборы
|
| 610 |
1 |
|
|a зондирование
|
| 610 |
1 |
|
|a туннельная микроскопия
|
| 610 |
1 |
|
|a туннельная спектроскопия
|
| 610 |
1 |
|
|a туннельный ток
|
| 610 |
1 |
|
|a микрорельеф поверхности
|
| 686 |
|
|
|a 22.338.4
|a 32.85
|2 rubbk
|
| 686 |
|
|
|a 29
|2 rugasnti
|
| 700 |
|
1 |
|a Шелковников
|b Е. Ю.
|g Евгений Юрьевич
|
| 702 |
|
1 |
|a Липанов
|b А. М.
|g Алексей Матвеевич
|4 727
|
| 711 |
0 |
2 |
|a Институт прикладной механики
|c (Ижевск)
|
| 711 |
0 |
2 |
|a Российская академия наук
|b Уральское отделение
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Институт прикладной механики
|c (Ижевск)
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Российская академия наук
|b Уральское отделение
|
| 801 |
|
0 |
|b NLR
|a RU
|c 20021014NLR
|a RU
|c 20021014v
|a pu
|c 20191113v
|a pu
|c 20191114
|
