Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Технологический контроль разме...
Описание
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Быстров Ю. А.
Другие авторы:
Колгин Е. А.
,
Котлецов Б. Н.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва Радио и связь 1988
Рубрика:
Размеры
Технический контроль
Ключевые слова:
Микроэлектронные схемы интегральные Размеры Технический контроль
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
5-256-00006-3
Схожие документы
Активный контроль размеров
Год издания: (1984)
Контроль размеров в машиностроении
Автор: Григорьев И. А.
Год издания: (1959)
Измерения и контроль в микроэлектронике
Год издания: (1984)
Контроль в технологии микроэлектроники
Автор: Колешко В. М.
Год издания: (1979)
Контроль технологии гибридных интегральных схем
Автор: Готра З. Ю.
Год издания: (1981)
×
Загрузка...