Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Структурно-примесные и электро...
Описание
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Структурно-примесные и электрофизические свойства системы Si - SiO2 Н. А. Зайцев, И. О. Шурчков
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Зайцев Н. А.
Другие авторы:
Шурчков И. О.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва Радио и связь 1993
Рубрика:
Окисление термическое
Электрофизические свойства
Ключевые слова:
Кремний Окисление термическое
Гетеропереходы: кремний - кремний, двуокись Электрофизические свойства
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
5-256-01177-2
Схожие документы
Электроника слоев SiO2 на кремнии
Автор: Барабан А. П.
Год издания: (1988)
Строение и свойства структур Si-Sio2-M
Автор: Вертопрахов В. Н.
Год издания: (1981)
Визит королю Si
Автор: Зубехин А. П.
Год издания: (1991)
Мир кремния
Автор: Рохов Ю. Д.
Год издания: (1990)
Кремний в живой природе
Автор: Воронков М. Г.
Год издания: (1984)
×
Загрузка...