Структурно-примесные и электрофизические свойства системы Si - SiO2 Н. А. Зайцев, И. О. Шурчков
Сохранить в:
Автор: | Зайцев Н. А. |
---|---|
Другие авторы: | Шурчков И. О. |
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Москва Радио и связь 1993
|
Рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Электроника слоев SiO2 на кремнии
Автор: Барабан А. П.
Год издания: (1988) -
Строение и свойства структур Si-Sio2-M
Автор: Вертопрахов В. Н.
Год издания: (1981) -
Визит королю Si
Автор: Зубехин А. П.
Год издания: (1991) -
Мир кремния
Автор: Рохов Ю. Д.
Год издания: (1990) -
Кремний в живой природе
Автор: Воронков М. Г.
Год издания: (1984)