Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Тюриков, Александр Валерьевич
Тип документа: Автореферат
Язык:Russian
Год издания: 2004
Online-ссылка:http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25368
Ключевые слова:
Недоступно описание.