Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов
Сохранить в:
| Автор: | |
|---|---|
| Тип документа: | Автореферат |
| Язык: | Russian |
| Год издания: |
2004
|
| Online-ссылка: | http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25368 |
| Ключевые слова: |