Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста Окунев Алексей Олегович
Сохранить в:
| Автор: | |
|---|---|
| Тип документа: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Год издания: |
Ижевск Удмуртский государственный университет 2009
|
| Рубрика: | |
| Ключевые слова: |
Недоступно описание.