|
|
|
|
| LEADER |
01338nam0a2200253 i 4500 |
| 001 |
006D51A7-50F7-49E9-9266-C43D80CC22CE |
| 100 |
|
|
|a 20090311d2009 |||y0rusy01
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a m 000#y
|
| 200 |
1 |
|
|a Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
|e автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физико-мат. наук
|f Окунев Алексей Олегович
|
| 210 |
|
|
|a Ижевск
|c Удмуртский государственный университет
|d 2009
|
| 215 |
|
|
|a 46с.
|c ил.
|d 20 см
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 43-46 (31 назв.)
|
| 328 |
|
|
|a Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.01
|
| 606 |
|
|
|a Полупроводники
|x Дефекты
|
| 606 |
|
|
|a Кристаллы
|x Дефекты
|x Исследование
|x Методы
|
| 686 |
|
|
|a 22.379.2
|a 22.371.23
|2 rubbk
|
| 686 |
|
|
|a 29
|2 rugasnti
|
| 700 |
|
1 |
|a Окунев
|b А. О.
|g Алексей Олегович
|
| 801 |
|
0 |
|b ГПНТБ России
|a RU
|c 20090311
|
