Marc-запись: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Сохранить в:

Библиографические подробности
Другие авторы:	Сих М. П., Бриггс Д., Ривьер Дж. К.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian English
Год издания:	Москва Мир 1987
Рубрика:	Спектроскопические исследования
Ключевые слова:	Поверхностные явления Спектроскопические исследования Оже-спектроскопия Спектроскопия рентгеноэлектронная


LEADER	01638nam0a2200337 i 4500
001	0CBD0449-525F-4AEA-90A0-68639903837D
010			\|d р.6.40
100			\|a 20120409d1987 m y0rusy02
101	1		\|a rus \|c eng
102			\|a RU
105			\|a a \|\|\|\|000zy
200	1		\|a Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии \|f [Сих М. П. и др.] ; под ред. Д. Бриггса, С. П. Сиха ; пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза
210			\|a Москва \|c Мир \|d 1987
215			\|a 598с. \|c ил. \|d 22 см
320			\|a Библиогр. в конце глав. - Указ. имен., хим. соединений, предм.: с. 581-592
314			\|a Авт. указаны на обороте тит. л.
454			\|1 \|a Practical sufrace analysis by auger-and X-ray photoelectron spectroscopy \|1 2101 \|a Chichestor \|d 1983
606			\|a Поверхностные явления \|x Спектроскопические исследования
606			\|a Оже-спектроскопия
606			\|a Спектроскопия рентгеноэлектронная
686			\|a 22.3 \|2 rubbk
686			\|a 29 \|2 rugasnti
701		1	\|a Сих \|b М. П.
701		1	\|a Бриггс \|b Д.
701		1	\|a Ривьер \|b Дж. К. \|f 1883-1962
702		1	\|a Раховский \|b В. И. \|g Вадим Израилевич \|4 340
702		1	\|a Рез \|b И. С. \|g Иосиф Соломонович \|4 340
801		0	\|b ГПНТБ России \|a RU \|c 20120409