Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Сих М. П. и др.] ; под ред. Д. Бриггса, С. П. Сиха ; пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза

Сохранить в:
Библиографические подробности
Другие авторы: Сих М. П., Бриггс Д., Ривьер Дж. К.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
English
Год издания: Москва Мир 1987
Рубрика:
Ключевые слова:

Схожие документы