Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Сих М. П. и др.] ; под ред. Д. Бриггса, С. П. Сиха ; пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза
Сохранить в:
| Другие авторы: | , , |
|---|---|
| Тип документа: | Книга |
| Язык: | Russian English |
| Год издания: |
Москва Мир 1987
|
| Рубрика: | |
| Ключевые слова: |
Ваш комментарий будет первым!