Значок книги

Методы исследования дефектов структур полупроводников А. А. Елисеев

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Елисеев А. А.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Москва МИТХТ 1983
Рубрика:
Дефекты
Ключевые слова:
Полупроводники Дефекты
Ваш комментарий будет первым!
Сначала войдите в систему

Схожие документы