|
|
|
|
| LEADER |
01156nam0a2200265 i 4500 |
| 001 |
6A548BC9-AB42-4BBA-B3C4-C468806FFF83 |
| 010 |
|
|
|d р.0.15
|
| 100 |
|
|
|a 20170125d1983 k y0rusy02 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a j 000#y
|
| 200 |
1 |
|
|a Методы исследования дефектов структур полупроводников
|e учебное пособие
|f А. А. Елисеев
|g Московский институт химического машиностроения
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c МИТХТ
|d 1983
|
| 215 |
|
|
|a 88с.
|c ил.
|d 20 см
|
| 320 |
|
|
|a Библиография: с. 88 (6 названий)
|
| 606 |
|
|
|a Полупроводники
|x Дефекты
|
| 686 |
|
|
|a 22
|2 rubbk
|
| 686 |
|
|
|a 29.19.31
|2 rugasnti
|
| 700 |
|
1 |
|a Елисеев
|b А. А.
|g Аркадий Александрович
|
| 711 |
0 |
2 |
|a Московский институт химического машиностроения
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Московский институт химического машиностроения
|
| 801 |
|
0 |
|b ГПНТБ России
|a RU
|c 20170125
|
