Методы исследования дефектов структур полупроводников А. А. Елисеев
Сохранить в:
Автор: | Елисеев А. А. |
---|---|
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Москва МИТХТ 1983
|
Рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Цифровые методы обработки рентгенотопографических и поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллических полупроводников
Автор: Ткаль В. А.
Год издания: (2007) -
Дефекты в кристаллах полупроводников
Год издания: (1969) -
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
Автор: Вавилов В. С.
Год издания: (1981) -
Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
Автор: Окунев А. О.
Год издания: (2009) -
Теория радиационных дефектов в полупроводниках
Автор: Тележкин В. А.
Год издания: (1988)