Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом Шелковников Евгений Юрьевич

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Шелковников Е. Ю.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Ижевск ИПМ УрО РАН 2008
Рубрика:
Ключевые слова:
LEADER 01526nam0a2200265 i 4500
001 8F5A94CE-49EB-4742-A5BC-D87D1E77AB0B
100 |a 20081223d2008 |||y0rusy02 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a m 000#y 
200 1 |a Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом  |e автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук  |f Шелковников Евгений Юрьевич 
210 |a Ижевск  |c ИПМ УрО РАН  |d 2008 
215 |a 48с.  |c ил.  |d 21 см 
320 |a Библиогр.: с. 44-48 (51 назв.) 
328 |a Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.11.06 
606 |a Ультрадисперсные частицы  |x Применение в наноиндустрии 
606 |a Наночастицы  |x Геометрические параметры 
606 |a Сканирующие туннельные микроскопы  |x Применение в наноиндустрии 
686 |a 30.6  |2 rubbk 
686 |a 81  |2 rugasnti 
700 1 |a Шелковников  |b Е. Ю.  |g Евгений Юрьевич 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20081223