Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом Шелковников Евгений Юрьевич

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Шелковников Е. Ю.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Ижевск ИПМ УрО РАН 2008
Рубрика:
Ключевые слова: