Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом Шелковников Евгений Юрьевич
Сохранить в:
| Автор: | |
|---|---|
| Тип документа: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Год издания: |
Ижевск ИПМ УрО РАН 2008
|
| Рубрика: | |
| Ключевые слова: |