Значок книги

Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Вавилов В. С.
Другие авторы: Кив А. Е., Ниязова О. Р.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Москва Наука 1981
Рубрика:
Дефекты
Ключевые слова:
Полупроводники Дефекты
Недоступно описание.

Схожие документы