Комментарии: Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

Значок книги

Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова

Сохранить в:

Библиографические подробности
Автор:	Вавилов В. С.
Другие авторы:	Кив А. Е., Ниязова О. Р.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian
Год издания:	Москва Наука 1981
Рубрика:	Дефекты
Ключевые слова:	Полупроводники Дефекты

Ваш комментарий будет первым!