Оптический интерференционный метод определения показателя преломления и толщины пленок П. Н. Крылов, И. В. Федотова, Р. М. Закирова
Сохранить в:
Автор: | Крылов П. Н. |
---|---|
Другие авторы: | Федотова И. В., Закирова Р. М. |
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Ижевск Удмуртский университет 2011
|
Рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Измерение толщины тонких пленок и покрытий
Автор: Александров А. А.
Год издания: (1966) -
Коагуляция и динамика тонких пленок
Автор: Духин С. С.
Год издания: (1986) -
Технология и оборудование для нанесения тонких пленок
Автор: Березин М. И.
Год издания: (1972) -
Эллипсометрия тонких пленок
Автор: Федотова И. В.
Год издания: (1996) -
Эпитаксия тонких пленок Германия и Кремния из атомных и молекулярных пучков
Автор: Александров Л. Н.
Год издания: (1974)