Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом

В монографии изложены метрологические аспекты вопросов контроля геометрических параметров ультрадисперсных частиц сканирующим туннельным микроскопом. Рассмотрены теоретические особенности процесса химического травления атомарно острых измерительных игл и технологии их изготовления. Приведены техниче...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: 2008
Online-ссылка:http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26747
Ключевые слова:
В монографии изложены метрологические аспекты вопросов контроля геометрических параметров ультрадисперсных частиц сканирующим туннельным микроскопом. Рассмотрены теоретические особенности процесса химического травления атомарно острых измерительных игл и технологии их изготовления. Приведены технические и методические решения, направленные на разработку программно-аппаратного обеспечения специализированного цифрового сканирующего туннельного микроскопа.