Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом
В монографии изложены метрологические аспекты вопросов контроля геометрических параметров ультрадисперсных частиц сканирующим туннельным микроскопом. Рассмотрены теоретические особенности процесса химического травления атомарно острых измерительных игл и технологии их изготовления. Приведены техниче...
Сохранить в:
Автор: | Шелковников, Евгений Юрьевич |
---|---|
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
2008
|
Online-ссылка: | http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26747 |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом
Автор: Шелковников Е. Ю.
Год издания: (2008) -
Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания: (2008) -
Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом
Автор: Шелковников Е. Ю.
Год издания: (2008) -
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания: (2000) -
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания: (2000)