Описание: Основы анализа поверхности и тонких пленок

Сохранить в:

Библиографические подробности
Автор:	Фелдман Л.
Другие авторы:	Майер Дж.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian English
Год издания:	Москва Мир 1989
Рубрика:	Ядерно-физический анализ
Ключевые слова:	Поверхностные слои Ядерно-физический анализ Пленки тонкие Ядерно-физический анализ

5-03-001017-3