Основы анализа поверхности и тонких пленок Л. Фелдман, Д. Майер
Сохранить в:
Автор: | |
---|---|
Другие авторы: | |
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian English |
Год издания: |
Москва Мир 1989
|
Рубрика: | |
Ключевые слова: |
LEADER | 01376nam0a2200313 i 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 1D592517-5D57-4323-BE4B-626D8F2E7A27 | ||
010 | |a 5-03-001017-3 |d р.3.70 | ||
100 | |a 20110822d1989 |||y0rusy02 ca | ||
101 | 1 | |a rus |c eng | |
102 | |a RU | ||
105 | |a a ||||000zy | ||
200 | 1 | |a Основы анализа поверхности и тонких пленок |f Л. Фелдман, Д. Майер |g пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева ; под ред. В. В. Белошицкого | |
210 | |a Москва |c Мир |d 1989 | ||
215 | |a 342с. |c ил. |d 22 см | ||
320 | |a Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 333-336 | ||
454 | 0 | |1 7001 |a Feldman Leonard C. |1 7011 |a Mayer James W. |1 2001 |a Fundamentals of surface and thin film analysis | |
606 | |a Поверхностные слои |x Ядерно-физический анализ | ||
606 | |a Пленки тонкие |x Ядерно-физический анализ | ||
686 | |a 22.371.2 |2 rubbk | ||
686 | |a 29 |2 rugasnti | ||
700 | 1 | |a Фелдман |b Л. |g Леонард | |
701 | 1 | |a Майер |b Дж. |g Джеймс | |
702 | 1 | |a Белошицкий |b В. В. |4 340 | |
702 | 1 | |a Аркадьев |b В. А. |4 730 | |
702 | 1 | |a Огнев |b Л. И. |4 730 | |
801 | 0 | |b ГПНТБ России |a RU |c 20110822 |