Основы анализа поверхности и тонких пленок Л. Фелдман, Д. Майер

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Фелдман Л.
Другие авторы: Майер Дж.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
English
Год издания: Москва Мир 1989
Рубрика:
Ключевые слова:
LEADER 01376nam0a2200313 i 4500
001 1D592517-5D57-4323-BE4B-626D8F2E7A27
010 |a 5-03-001017-3  |d р.3.70 
100 |a 20110822d1989 |||y0rusy02 ca 
101 1 |a rus  |c eng 
102 |a RU 
105 |a a ||||000zy 
200 1 |a Основы анализа поверхности и тонких пленок  |f Л. Фелдман, Д. Майер  |g пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева ; под ред. В. В. Белошицкого 
210 |a Москва  |c Мир  |d 1989 
215 |a 342с.  |c ил.  |d 22 см 
320 |a Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 333-336 
454 0 |1 7001   |a Feldman Leonard C.  |1 7011   |a Mayer James W.  |1 2001   |a Fundamentals of surface and thin film analysis 
606 |a Поверхностные слои  |x Ядерно-физический анализ 
606 |a Пленки тонкие  |x Ядерно-физический анализ 
686 |a 22.371.2  |2 rubbk 
686 |a 29  |2 rugasnti 
700 1 |a Фелдман  |b Л.  |g Леонард 
701 1 |a Майер  |b Дж.  |g Джеймс 
702 1 |a Белошицкий  |b В. В.  |4 340 
702 1 |a Аркадьев  |b В. А.  |4 730 
702 1 |a Огнев  |b Л. И.  |4 730 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20110822