Значок книги

Основы анализа поверхности и тонких пленок Л. Фелдман, Д. Майер

Сохранить в:

Библиографические подробности
Автор:	Фелдман Л.
Другие авторы:	Майер Дж.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian English
Год издания:	Москва Мир 1989
Рубрика:	Ядерно-физический анализ
Ключевые слова:	Поверхностные слои Ядерно-физический анализ Пленки тонкие Ядерно-физический анализ

Схожие документы

Дистанционные анализаторы и спектрометры
Автор: Курочкин С. С.
Год издания: (1990)

Неразрушающий анализ поверхностей твердых тел ионными пучками
Автор: Комаров Ф. Ф.
Год издания: (1987)

Использование ускорителей в элементном анализе
Год издания: (1980)

Ядерно-физические методы анализа в сельском хозяйстве
Автор: Тер-Сааков А. А.
Год издания: (1989)

Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок
Автор: Васичев Б. Н.
Год издания: (1977)

Ядерно-физические методы контроля делящихся веществ
Автор: Фролов В. В.
Год издания: (1989)

Эллипсометрия тонких пленок
Автор: Федотова И. В.
Год издания: (1996)

Коагуляция и динамика тонких пленок
Автор: Духин С. С.
Год издания: (1986)

Технология и оборудование для нанесения тонких пленок
Автор: Березин М. И.
Год издания: (1972)

Технология тонких пленок
Автор: Ветошкин В. М.
Год издания: (2013)

Эпитаксия тонких пленок Германия и Кремния из атомных и молекулярных пучков
Автор: Александров Л. Н.
Год издания: (1974)

Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок
Автор: Еловиков С. С.
Год издания: (1992)

Вакуумное нанесение тонких пленок
Автор: Данилин Б. С.
Год издания: (1967)

Теория устойчивости коллоидов и тонких пленок
Автор: Дерягин Б. В.
Год издания: (1986)

Неразрушающий контроль параметров тонких проводящих пленок электромагнитными методами
Автор: Гаврилин В. В.
Год издания: (1991)

Рентгенодифракционные исследования нанокомпозитных тонких пленок. Программные методы
Год издания: (2009)

Ядерные методы химического анализа окружающей среды
Автор: Телдеши Ю.
Год издания: (1991)

Химия и технология неорганических пленок
Автор: Борисенко А. И.
Год издания: (1973)

Введение в эллипсометрию наноразмерных пленок
Автор: Алалыкин А. С.
Год издания: (2011)

Структурные превращения в тонких пленках
Автор: Иевлев В. М.
Год издания: (1988)

Структурные превращения в тонких пленках
Автор: Иевлев В. М.
Год издания: (1982)

Измерение толщины тонких пленок и покрытий
Автор: Александров А. А.
Год издания: (1966)

Массоперенос в тонких пленках
Автор: Колешко В. М.
Год издания: (1980)

Применение тонких поглощающих пленок в измерительной технике СВЧ
Автор: Архангельский Ю. С.
Год издания: (1975)

Основы физического эксперимента и математическая обработка результатов измерений
Автор: Кондрашов А. П.
Год издания: (1977)

Двумерная диффузия в многослойных тонкопленочных структурах
Автор: Сысоев Г. И.
Год издания: (1993)

Материалы II всесоюзного межотраслевого совещания "Тонкие пленки в электронике"
Год издания: (1991)

Эпитаксиальные пленки соединений AII ВVI
Автор: Калинкин И. П.
Год издания: (1978)

Кристаллизация тонких пленок
Год издания: (1970)

Взаимосвязь химического строения поверхностных слоев 3d-сплавов в аморфном, кристаллическом и жидком состояниях
Автор: Варганов Д. В.
Год издания: (1988)

Вакуумное нанесение пленок в квазизамкнутом объеме
Год издания: (1975)

Проблемы учебного физического эксперимента
Год издания: (1998)

Проблемы учебного физического эксперимента
Год издания: (1999)

Проблемы учебного физического эксперимента
Год издания: (1998)

Проблемы учебного физического эксперимента
Год издания: (1999)

Проблемы учебного физического эксперимента
Год издания: (2000)

Проблемы учебного физического эксперимента
Год издания: (2017)

Проблемы учебного физического эксперимента
Год издания: (2005)

Проблемы учебного физического эксперимента
Год издания: (2005)

Проблемы учебного физического эксперимента
Год издания: (2006)