Значок книги

Введение в эллипсометрию наноразмерных пленок А. С. Алалыкин, Е. А. Зайцева, П. Н. Крылов

Сохранить в:

Библиографические подробности
Автор:	Алалыкин А. С.
Другие авторы:	Зайцева Е. А., Крылов П. Н.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian
Год издания:	Ижевск Удмуртский университет 2011
Предметная рубрика:	Электромагнитные волны Матричный метод расчета Поляризационные углы
Рубрика:	Эллипсометрия
Ключевые слова:	Тонкие пленки Эллипсометрия

Схожие документы

Эллипсометрия тонких пленок
Автор: Федотова И. В.
Год издания: (1996)

Введение в эллипсометрию
Автор: Громов В. К.
Год издания: (1986)

Коагуляция и динамика тонких пленок
Автор: Духин С. С.
Год издания: (1986)

Технология и оборудование для нанесения тонких пленок
Автор: Березин М. И.
Год издания: (1972)

Эпитаксия тонких пленок Германия и Кремния из атомных и молекулярных пучков
Автор: Александров Л. Н.
Год издания: (1974)

Химия и технология неорганических пленок
Автор: Борисенко А. И.
Год издания: (1973)

Технология тонких пленок
Автор: Ветошкин В. М.
Год издания: (2013)

Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок
Автор: Васичев Б. Н.
Год издания: (1977)

Вакуумное нанесение тонких пленок
Автор: Данилин Б. С.
Год издания: (1967)

Неразрушающий контроль параметров тонких проводящих пленок электромагнитными методами
Автор: Гаврилин В. В.
Год издания: (1991)

Двумерная диффузия в многослойных тонкопленочных структурах
Автор: Сысоев Г. И.
Год издания: (1993)

Эпитаксиальные пленки соединений AII ВVI
Автор: Калинкин И. П.
Год издания: (1978)

Материалы II всесоюзного межотраслевого совещания "Тонкие пленки в электронике"
Год издания: (1991)

Вакуумное нанесение пленок в квазизамкнутом объеме
Год издания: (1975)

Теория устойчивости коллоидов и тонких пленок
Автор: Дерягин Б. В.
Год издания: (1986)

Рентгенодифракционные исследования нанокомпозитных тонких пленок. Программные методы
Год издания: (2009)

Диэлектрические пленки в микроэлектронике
Автор: Корзо В. Ф.
Год издания: (1977)

Структурные превращения в тонких пленках
Автор: Иевлев В. М.
Год издания: (1988)

Структурные превращения в тонких пленках
Автор: Иевлев В. М.
Год издания: (1982)

Измерение толщины тонких пленок и покрытий
Автор: Александров А. А.
Год издания: (1966)

Применение тонких поглощающих пленок в измерительной технике СВЧ
Автор: Архангельский Ю. С.
Год издания: (1975)

Эллипсометрия. Теория. Методы. Приложения
Год издания: (1991)

Эллипсометрия
Автор: Горшков М. М.
Год издания: (1974)

Массоперенос в тонких пленках
Автор: Колешко В. М.
Год издания: (1980)

Оптический интерференционный метод определения показателя преломления и толщины пленок
Автор: Крылов П. Н.
Год издания: (2011)

Магнетронное напыление
Год издания: (1994)

Вычислительные системы
Год издания: (1991)

Вопросы пленочной электроники
Год издания: (1966)

Технология и оборудование вакуумного напыления
Автор: Никитин М. М.
Год издания: (1992)

Интерференционные покрытия
Автор: Крылова Т. Н.
Год издания: (1973)

Радиоволновая эллипсометрия
Автор: Конев В. А.
Год издания: (1985)

Магнетронные распылительные системы
Автор: Данилин Б. С.
Год издания: (1982)

Основы анализа поверхности и тонких пленок
Автор: Фелдман Л.
Год издания: (1989)

Применение низкотемпературной плазмы для нанесения тонких пленок
Автор: Данилин Б. С.
Год издания: (1989)

Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок
Автор: Еловиков С. С.
Год издания: (1992)

Пленки из элементоорганических соединений в радиоэлектронике
Автор: Корзо В. Ф.
Год издания: (1973)

Кристаллизация тонких пленок
Год издания: (1970)

Физика металлических пленок
Автор: Комник Ю. Ф.
Год издания: (1979)

Физика сегнетоэлектрических пленок
Автор: Дудкевич В. П.
Год издания: (1979)

Тонкие пленки антимонида индия
Год издания: (1989)